艾思荔半導體PCT高壓加速老化試驗箱實驗開始前之真空動作可將原來箱內(nèi)之空氣抽出并吸入過濾蕊過濾之新空氣(partical<1micorn)。以確保箱內(nèi)之純凈度。臨界點LIMIT方式自動安全保護，異常原因與故障指示燈顯示。利型packing，箱內(nèi)壓力愈大時，packing會有反壓會使其與箱體更緊密結(jié)合，與傳統(tǒng)擠壓式*不同，可延長packing壽命。

PCT高壓加速老化試驗箱技術(shù)性能指標：

1.溫度范圍:＋105℃～＋132℃。

2.溫度波動度:±0.5℃。

3.溫度均勻度:±1.5℃。

4.濕度范圍:75%～100%R.H（可調(diào)節(jié)濕度）。

5.濕度波動度:±1.5%R.H。

6.濕度均勻度:±3.0%R.H。

7.壓力范圍：

u相對壓力范圍：+0～2kg/cm2。（注：可生產(chǎn)壓力范圍：+0～4kg/cm2）。

u鍋內(nèi)壓力：+0～2.0kg/cm2。（可調(diào)節(jié)）。

u對壓力：1.0kg/cm2～3.0kg/cm2。

u安全壓力容量：4kg/cm2＝1個大氣壓＋3kg/cm2。

8.循環(huán)方式:水蒸氣自然對流循環(huán)。

9.測時間設(shè)置：0～999Hr。

10.加壓時間：0.00kg/cm2～2.00kg/cm2約30分鐘。

12.升溫時間:由常溫升至＋132℃約30分鐘非線性空載。

13.溫度變化速率為空氣溫度平均變化速率,而非產(chǎn)品溫度變化速率。

14.循環(huán)方式：水蒸氣自然對流循環(huán)。

15.配件：不銹鋼隔板兩層。

16.全保護：缺水保護，超壓保護(具有自動/手動補水功能，自動瀉壓功能)。

PCT高壓加速老化試驗箱特點：

1.圓型內(nèi)箱，不銹鋼圓型試驗內(nèi)箱結(jié)構(gòu)，符合工業(yè)安全容器標準，可防止試驗中結(jié)露滴水設(shè)計。

2.圓幅內(nèi)襯，不銹鋼圓幅型內(nèi)襯設(shè)計，可避免蒸氣潛熱直接沖擊試品。

3.精密設(shè)計，氣密性良好，耗水量少，每次加水可連續(xù)200h。

4.自動門禁，圓型門自動溫度與壓力檢知安全門禁鎖定控制，安全門把設(shè)計，箱內(nèi)有大于常壓時測試們會被反壓保護。

注:

1.在無試驗負荷、無層架情況下穩(wěn)定30分鐘后測定的性能。

2.關(guān)于溫度上升及下降時間是指風冷式在周圍環(huán)境溫度為26℃±5℃,時所測量的性能。

3.溫濕度傳感器設(shè)置于空調(diào)箱出風口處。

4.溫濕度均勻度定義為：實驗室?guī)缀沃行狞c處，溫濕度時的所測之資料。

5.以上數(shù)據(jù)性能，測量，計算方法參照GB5170.2、GB5170.5的方法測定。

PCT高壓加速老化試驗箱執(zhí)行與滿足標準：

1.GB/T10586-1989濕熱試驗室技術(shù)條件；

2.GB2423.3-93(IEC68-2-3)恒定濕熱試驗；

3.MIL-STD810D方法502.2；

4.GJB150.9-8溫濕試驗；

5.GB2423.34-86、MIL-STD883C方法1004.2溫濕度、高壓組合循環(huán)試驗；

半導體PCT高壓加速老化試驗箱用途：

又稱為高壓加速老化試驗箱，適用于國防、航天、汽車部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業(yè)、制藥線路板，多層線路板、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照明制品等產(chǎn)品之密封性能的檢測，相關(guān)之產(chǎn)品作加速壽命試驗。高溫試驗，壓力試驗，蒸氣試驗，三綜合老化試驗箱。

公司主營產(chǎn)品：高壓加速老化試驗箱、冷熱沖擊試驗箱、恒濕恒濕試驗箱、高低溫試驗箱、步入式溫濕交變試驗室、高低溫濕熱交變試驗機、高溫老化房、hast加速高壓老化試驗箱、高低溫低氣壓試驗箱、hast老化試驗箱、紫外線耐候老化試驗箱、氙燈耐候老化試驗箱、耐寒折彎試驗箱、砂塵試驗箱、淋雨試驗箱、臭氧老化試驗箱、換氣老化試驗箱、恒溫鼓風干燥試驗箱、太陽光伏組件試驗箱、振動試驗機、跌落試驗機、三次元等可靠性試驗設(shè)備以及定做非標機型。